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IR-2發(fā)射率測(cè)試儀-可測(cè)高溫

日期:2025-05-01 03:42
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摘要: IR-2發(fā)射率測(cè)試儀,600度高溫陶瓷材料測(cè)量?jī)x器工作原理和特點(diǎn): 1.本儀器的設(shè)計(jì)采用反射率法的測(cè)試原理,即通過(guò)采用主動(dòng)黑體輻射源測(cè)定待測(cè)物表面的法向反射率, 2.設(shè)計(jì)了專(zhuān)用小型標(biāo)準(zhǔn)黑體輻射源,并采用六位高精度黑體控溫儀(能顯示到1mk),極大地提高了儀器在測(cè)量時(shí)的可靠性和穩(wěn)定性。 3.在測(cè)量光路設(shè)計(jì)中,采用了獨(dú)特的光學(xué)調(diào)制技術(shù),使測(cè)量不受被測(cè)物表面輻射及環(huán)境輻射的影響。 4.考慮到樣品漫反射引起的測(cè)量誤差,在儀器設(shè)計(jì)中,除鏡反射(MR)探測(cè)通道外,還增設(shè)了專(zhuān)門(mén)的漫反射(DR)補(bǔ)償通道,從而...

IR-2發(fā)射率測(cè)試儀,600度高溫陶瓷材料測(cè)量?jī)x器工作原理和特點(diǎn):

1.本儀器的設(shè)計(jì)采用反射率法的測(cè)試原理,即通過(guò)采用主動(dòng)黑體輻射源測(cè)定待測(cè)物表面的法向反射率,

2.設(shè)計(jì)了專(zhuān)用小型標(biāo)準(zhǔn)黑體輻射源,并采用六位高精度黑體控溫儀(能顯示到1mk),極大地提高了儀器在測(cè)量時(shí)的可靠性和穩(wěn)定性。

3.在測(cè)量光路設(shè)計(jì)中,采用了獨(dú)特的光學(xué)調(diào)制技術(shù),使測(cè)量不受被測(cè)物表面輻射及環(huán)境輻射的影響。

4.考慮到樣品漫反射引起的測(cè)量誤差,在儀器設(shè)計(jì)中,除鏡反射(MR)探測(cè)通道外,還增設(shè)了專(zhuān)門(mén)的漫反射(DR)補(bǔ)償通道,從而確保了儀器的測(cè)量精度。

5.在信號(hào)及電子學(xué)處理技術(shù)上采用鎖相技術(shù)和微電子技術(shù),較好地實(shí)現(xiàn)了對(duì)微弱信號(hào)的探測(cè),進(jìn)一步提高了儀器性能。

6.用二塊發(fā)射率已知的參考樣板(一塊為鍍鋁低發(fā)射率參考板,一塊為銅中發(fā)射率參考板)在常溫下對(duì)儀器進(jìn)行校正,并用高發(fā)射率的水進(jìn)行復(fù)核(因?yàn)樗诳梢?jiàn)光透明,在紅外波段的發(fā)射率高達(dá)0.97) 從而確保了儀器的測(cè)量精度。

7.本儀器帶RS-232串口,每按一次測(cè)量鍵E,就發(fā)送一次數(shù)據(jù),起始位標(biāo)志AA。

 

IR-2發(fā)射率測(cè)試儀,600度高溫陶瓷材料測(cè)量?jī)x器主要技術(shù)指標(biāo)

1.測(cè)量波段:1~22μm  3~5μm  8~14μm

(若用戶(hù)有特殊要求,可定制不同波段濾光片)

2.發(fā)射率測(cè)量范圍:0.1~0.99

3.靈敏度:0.001

4.示值誤差:±0.02

5.重復(fù)性:±0.01

6.樣品溫度:常溫(常溫~600℃)

7.樣品尺寸:Ф≤35 mm

8.測(cè)量時(shí)間:3秒后按輕觸開(kāi)關(guān)E,即顯示測(cè)量值

9.顯示方法:LED數(shù)字顯示,末位0.001

10.電源:交流220V  50HZ 

 

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